VIP Extended

VIP Extended è un sistema ATE altamente configurabile, progettato per il test in parallelo di dispositivi in silicio, SiC e GaN, inclusi driver lato alto/lato basso, IGBT, MOSFET di potenza e circuiti integrati di potenza (Power IC).
Progettato per l’utilizzo in ambienti wafer sort, strip test, pick & place e handler a gravità, il sistema supporta fino a 48 siti di test in parallelo per la misura di parametri come Rg, Cg e UIS, garantendo un’elevata produttività (UPH) e una significativa riduzione dei costi di test.
Il sistema include fino a 48 risorse DC a quattro quadranti (±80 V, ±4 A), 48 canali programmabili sink/source di corrente fino a ±250 A, 320 canali digitali con livello basso a 0 V, livello alto da 2,3 V a 5,5 V @50 mA di capacità di corrente, 2 M di memoria pattern per vettori e fino a 192 driver digitali floating.
Le misure temporali sono gestite da un TMU a 48 canali, affiancato da fino a 48 LCR meter, 64 PPMUs, 48 picoamperometri (con accuratezza di 20 pA), 48 carichi induttivi/resistivi.
Tutti i componenti sono alloggiati in un cabinet compatto (350 × 600 × 640 mm), rendendo VIP Extended ideale per l’integrazione nelle linee produttive.

VIP Extended è stato progettato per offrire modularità in più configurazioni di test, adattandosi a requisiti specifici dei dispositivi e ottimizzando il costo per test grazie all’elevata densità di risorse e alla flessibilità operativa.
Supporta applicazioni nei settori automotive, consumer, industriale, aerospaziale e MEMS, integrandosi perfettamente in ambienti produttivi ad alto volume.

VIP Extended unisce test in parallelo ad alte prestazioni, ampia configurabilità, precisione e design compatto, offrendo una soluzione efficace per il test avanzato di dispositivi di potenza nei mercati che richiedono alta produttività, flessibilità e convenienza.