M2 Wafer Edition

La tecnologia wide bandgap in SiC sta aprendo la strada a una nuova generazione di dispositivi di potenza ad alta tensione per applicazioni nei trasporti, nella trasmissione di energia e nelle energie rinnovabili. M2 Wafer Edition consente il test fino a 10 kV su wafer prima della singolazione, individuando precocemente i dispositivi difettosi e riducendo i costi di packaging dei die non conformi.

Ultra High Voltage: qualifica e screening di dispositivi SiC all’avanguardia da 3,3 kV+ al loro pieno limite operativo, garantendo risultati accurati di breakdown, leakage e prove di stress direttamente correlabili alle condizioni applicative reali.

Test con affidabilità: il collaudo di dispositivi di potenza impone requisiti stringenti all’hardware di test. La piattaforma M2 di Cosmic è robusta e precisa, progettata per operatività 24/7 in ambienti produttivi ad alto volume, assicurando elevata affidabilità e lunghi intervalli tra gli interventi. Ciò incrementa l’output della cella di test e riduce l’impegno richiesto a operatori e manutentori.

Produttività: investi oggi nelle funzionalità necessarie e integra nuove capacità in seguito, accompagnando l’evoluzione dei tuoi dispositivi e ottenendo un rapido ritorno dell’investimento.
M2 è una piattaforma altamente modulare ed espandibile, riconfigurabile con nuovo hardware di test in funzione delle esigenze applicative.

M2 Flexible Edition è la piattaforma di test automatica ideale per ambienti ad alto mix produttivo, con riconfigurazione rapida tra lotti, inclusi MOSFET, JFET, IGBT, transistor, SCR (silicon controlled rectifiers), dispositivi bipolari, diodi, TRIAC e dispositivi di potenza intelligenti.