Services
Servizi completi di test per semiconduttori
La divisione Services offre una gamma completa di servizi di test, dal wafer sort e collaudo finale di produzione fino alla caratterizzazione, qualificazione, test di affidabilità e analisi avanzata dei guasti e della tecnologia, nonché supporto alla progettazione ASIC e al design-for-testability (DFT) per ottimizzare le prestazioni del dispositivo, la testabilità e il time-to-market.
Dalla progettazione ASIC al mercato
La divisione Cosmic Services offre un portfolio completo di servizi di test, supportando i clienti lungo l’intero ciclo di vita del dispositivo. Cosmic Services fornisce soluzioni che spaziano dallo sviluppo di soluzioni di test personalizzate, alla progettazione ASIC con supporto design-for-testability (DFT), fino al wafer sort e al collaudo finale di produzione. Inoltre, la divisione è specializzata in test di caratterizzazione e qualificazione, oltre a burn-in e test di affidabilità. Cosmic garantisce elevati standard qualitativi e una rapida esecuzione dei progetti di troubleshooting dei dispositivi grazie a capacità avanzate di failure & technology analysis, che consentono l’identificazione precisa dei guasti tramite tecniche sofisticate di analisi dei guasti, supportando così il miglioramento continuo e i processi di ottimizzazione del prodotto.
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FAQ
I servizi di test per semiconduttori comprendono l’intero ciclo di vita delle attività di verifica e validazione eseguite su un Circuito Integrato (IC) o su un Application Specific Integrated Circuit (ASIC). Questi servizi sono fondamentali perché garantiscono che il dispositivo soddisfi tutte le specifiche elettriche, funzionali e di affidabilità prima della produzione di massa e dell’utilizzo nelle applicazioni finali (in particolare nei settori safety-critical come Automotive o Aerospace). Includono tutto, dal Design for Testability (DFT) iniziale fino al test di produzione finale e all’analisi dei guasti (Failure Analysis).
Diventiamo un partner all-in-one già a partire dalla fase di ASIC Design applicando i principi di Design for Testability (DFT). Questo coinvolgimento proattivo garantisce che il circuito sia intrinsecamente testabile, aspetto fondamentale per:
- Massimizzare la copertura dei guasti (la percentuale di difetti possibili che possono essere rilevati).
- Ridurre la complessità e i costi dello sviluppo successivo del programma di test.
- Ottimizzare il time to market complessivo.
- Test di caratterizzazione (su wafer e su dispositivi incapsulati): questa fase esegue misurazioni elettriche funzionali approfondite per determinare se il dispositivo è stato progettato correttamente e come le sue prestazioni variano in diverse condizioni (ad es. PVT – Processo, Tensione, Temperatura). È di natura diagnostica ed è essenziale per la validazione del design.
- Test di produzione (Wafer Sort – WS / Final Test – FT): si tratta di uno screening ad alto volume, di tipo pass/fail, eseguito per garantire che ogni dispositivo consegnato soddisfi le specifiche. L’attenzione è rivolta a efficienza, riduzione del tempo di test e massimizzazione della resa produttiva.
Sì. Siamo specializzati nello sviluppo e nella produzione interna di soluzioni di test complete e personalizzate, inclusi il programma di test (software) e l’hardware necessario, come probe card e load board (o socket board). Questo approccio su misura garantisce la massima accuratezza ed efficienza per il tuo specifico dispositivo sotto test (DUT).