{"id":66221,"date":"2026-01-16T15:36:33","date_gmt":"2026-01-16T14:36:33","guid":{"rendered":"https:\/\/cosmic-group.com\/stage\/wafer\/"},"modified":"2026-03-09T14:17:57","modified_gmt":"2026-03-09T13:17:57","slug":"wafer","status":"publish","type":"stage","link":"https:\/\/cosimo.filanda.it\/it\/stage\/wafer\/","title":{"rendered":"Wafer"},"content":{"rendered":"<p>ATE per il test a livello di wafer prima del packaging.<\/p>\n<p>Consente il rilevamento precoce dei difetti, l\u2019ottimizzazione della resa (yield) e la validazione elettrica direttamente sul wafer di silicio.<\/p>\n","protected":false},"featured_media":0,"template":"","meta":{"_acf_changed":false},"class_list":["post-66221","stage","type-stage","status-publish","hentry"],"acf":[],"_links":{"self":[{"href":"https:\/\/cosimo.filanda.it\/it\/wp-json\/wp\/v2\/stage\/66221","targetHints":{"allow":["GET"]}}],"collection":[{"href":"https:\/\/cosimo.filanda.it\/it\/wp-json\/wp\/v2\/stage"}],"about":[{"href":"https:\/\/cosimo.filanda.it\/it\/wp-json\/wp\/v2\/types\/stage"}],"wp:attachment":[{"href":"https:\/\/cosimo.filanda.it\/it\/wp-json\/wp\/v2\/media?parent=66221"}],"curies":[{"name":"wp","href":"https:\/\/api.w.org\/{rel}","templated":true}]}}